晓菜鸡


私信TA

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解题思路:

两个好芯片互相检测结果必为1,好芯片的数量比坏芯片多,所以好芯片所在行(或列)的1数必定大于0数。

注意事项:

可能有坏芯片某行(列)1数大于0数。

所以需要行和列都满足1数大于0数,才能判定为好芯片。
参考代码:

#include<iostream>

using namespace std;


int main() {

int n;

cin >> n;

int a[23][23] = { 0 };  //空间开大一些,避免玄学错误

int good;

int bad;

for (int i = 0; i < n; i++) {

for (int j = 0; j < n; j++) {

cin >> a[i][j];

}

}

for (int i = 0; i < n; i++) {

good = 0;

bad = 0;

for (int j = 0; j < n; j++) {    //某行或某列

if (a[i][j]&&a[j][i]) good++;   //肯定为好芯片,记录1的数量

else  bad++;           //其他计为0

}

if (good > bad) {      //某行或某列1数大于0数;

cout << i + 1 << " ";

}

}

return 0;

}


 

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